ZEISS Palettensysteme

Palettensysteme bieten Ihnen zahlreiche Vorteile:

• Werkstücke abseits des Messgerätes aufspannen und wertvolle Maschinenkapazität zum tatsächlichen Messen nutzen
• Paletten im Handumdrehen wechseln, das verkürzt die Stillstandzeiten zusätzlich
• Das Werkstück ist schnell und reproduzierbar ausgerichtet
• Mit Hilfe der Einmesspalette erfolgt die Kalibrierung ebenfalls wiederholgenau und mittig im Messvolumen, ohne langwieriges Aufspannen

Das Palettensystem ZEISS OMEGA wurde speziell für optische Messgeräte wie ZEISS O-INSPECT und O-SELECT entwickelt.
Das Palettensystem ZEISS THETA ist einsetzbar für taktile Messgeräte, also Portal- und Fertigungsmessgeräte.
Das Palettensystem ZEISS GAMMA dient zum Aufspannen für Computertomografie.