Palettensystem ZEISS OMEGA

Für optische Messmaschinen

OMEGA 322

Für die ZEISS O-INSPECT 322 | mehr
OMEGA 543

Für die ZEISS O-INSPECT 543 | mehr
OMEGA 863

Palletenlösung für O-INSPECT 863 | mehr
OMEGA Select

Für ZEISS O-SELECT | mehr
OMEGA 442

Für ZEISS O-INSPECT 442 | mehr

Beschreibung

Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optischen Messmaschinen ZEISS O-INSPECT und O-SELECT konzipiert. Der Messbereich kann komplett ausgeschöpft werden, während Sie von den Vorteilen des Palettensystems profitieren:

Werkstücke abseits des Messgerätes aufspannen und wertvolle Maschinenkapazität zum tatsächlichen Messen nutzen
Paletten im Handumdrehen wechseln, das verkürzt die Stillstandzeiten zusätzlich
das Werkstück ist durch die 3-Punkt-Aufnahme schnell und reproduzierbar ausgerichtet
mit Hilfe der Einmesspalette erfolgt die Kalibrierung ebenfalls wiederholgenau und mittig im Messvolumen, ohne langwieriges Aufspannen

Für die O-INSPECT stehen Ihnen verschiedene Paletten abhängig von ihrer Größe zur Verfügung.