Palettensystem ZEISS OMEGA
Für optische Messmaschinen

Vereinigte Staaten von Amerika
Das Palettensystem ZEISS OMEGA ist für die optischen Messmaschinen ZEISS O-INSPECT und O-SELECT konzipiert. Der Messbereich kann komplett ausgeschöpft werden, während Sie von den Vorteilen des Palettensystems profitieren:
Für die O-INSPECT stehen Ihnen verschiedene Paletten abhängig von ihrer Größe zur Verfügung.